本文討論使用顯微鏡進行目視檢查和返工時遇到的挑戰(zhàn)。使用正確類型的顯微鏡和光學(xué)設(shè)置對于優(yōu)化工作流程和增加產(chǎn)量至關(guān)重要。使用顯微鏡進行目視檢查和返工時可能遇到的挑戰(zhàn)包括確定適當(dāng)?shù)姆糯蟊堵屎驼彰饕约坝凶銐虼蟮墓ぷ骶嚯x。然而，其他關(guān)鍵因素與工作流程優(yōu)化、有效報告結(jié)果和用戶培訓(xùn)以及檢查過程中的用戶舒適度有關(guān)。Leica數(shù)碼和立體顯微鏡能夠提供一系列完整的解決方案，幫助您克服這些挑戰(zhàn)，提供更有效的檢查和返工。

簡介

需要以一種高效且經(jīng)濟的方式檢查部件和組件。目標是確保并優(yōu)化產(chǎn)品性能和生命周期。本文介紹用戶使用顯微鏡進行檢查和返工時可能面臨的典型挑戰(zhàn)，并提及能夠幫助用戶克服這些挑戰(zhàn)且能夠優(yōu)化檢查工作流程效率的Leica數(shù)碼和立體顯微鏡。

目視檢查面臨的挑戰(zhàn)

通常使用數(shù)碼或立體顯微鏡進行部件和組件目視檢查。僅需要檢查時，數(shù)碼顯微鏡或配備攝像頭的顯微鏡是很好的解決方案。需要返工檢查時，通常使用配備目鏡的立體顯微鏡。

僅檢查和返工檢查（數(shù)碼顯微鏡或配備攝像頭的顯微鏡）

進行目視檢查時遇到的很多挑戰(zhàn)可能導(dǎo)致工作流程效率低。以下為用戶可能面臨的一些常見挑戰(zhàn)：

l   光學(xué)性能和照明不足

錯誤使用光學(xué)透鏡和光照明設(shè)置可能會阻止用戶從簡單的大視野（低放大倍率，大視野和景深；請參閱圖1A）快速轉(zhuǎn)換視野，在不失去焦點的情況下查看微小細節(jié)（更高的放大倍率）。發(fā)生這種情況時，每次改變放大倍率時需要進行其他調(diào)節(jié)，以獲得清晰的圖像。照明在成像過程中至關(guān)重要，可增強不同樣本的細節(jié)（請參閱圖1B和圖1C）

l   工作距離過小

顯微鏡的工作距離（請參閱圖1D）是物鏡底部到樣本頂部之間的距離。使用具有短工作距離的顯微鏡物鏡可能致使難以進行需要用工具訪問樣本或需要處理樣本的返工。使用具有短工作距離的物鏡進行檢查時，樣本可能更易觸及物鏡，可能發(fā)生損壞。

圖1：A）紅色箭頭表示顯微鏡圖像的視野（水平）和景深（垂直）。微電子樣本使用B）環(huán)形燈和C）同軸照明系統(tǒng)成像。D）顯微鏡工作距離用紅色箭頭表示。

l 使用專用工作站導(dǎo)致延遲

進行樣本測量時，結(jié)合標準參考進行分析或者對比，有時需要跨工作站傳輸樣本和備注，以進行專業(yè)檢查任務(wù)。如果工作站被占用，則此工作流程可能導(dǎo)致等待/空閑時間。如果工作站之間存在手動圖像數(shù)據(jù)傳輸（例如，使用像USB和SD卡之類的移動媒介），則處理中媒介可能暫時丟失或者丟失，從而導(dǎo)致延遲或降低檢查效率。

l 難以操作顯微鏡

復(fù)雜的顯微鏡操作可能需要對用戶進行特殊培訓(xùn)才能熟練掌握。確保每位用戶掌握進行操作的適當(dāng)技術(shù)水平很重要，且通常需要額外的培訓(xùn)時間，尤其是初始用戶技術(shù)水平存在較大差異時。不簡便的顯微鏡和軟件包可能會降低用戶培訓(xùn)速度并降低生產(chǎn)力。

l 無法快速適應(yīng)新檢查需求

檢查不同樣本（如印制電路板、電子組裝件、汽車部件和組件或醫(yī)療器械）通常需要不同的顯微鏡設(shè)置（物鏡、照明等）。復(fù)雜且不可改變的顯微鏡解決方案可能限制用戶使其快速適應(yīng)用戶需求和所想檢查樣本類型的能力。

l 繁瑣的結(jié)果報告

報告和分享結(jié)果（即，圖像分析、數(shù)據(jù)和報告）時，為維持有效的工作流程，其他工作站必須易于訪問結(jié)果。但是，使用專用工作站進行該任務(wù)時，由于嘗試訪問工作站或手動傳輸數(shù)據(jù)，用戶之間的信息分享可能變得困難且緩慢，導(dǎo)致生產(chǎn)力降低。

l 檢查過程中用戶拉傷和受傷的風(fēng)險

由于重復(fù)性的任務(wù)，使用顯微鏡進行的樣本檢查通常是一個可能花費數(shù)小時的緩慢過程。長時間重復(fù)相同的動作可能導(dǎo)致用戶不適和拉傷，尤其是使用不符合人體工程學(xué)設(shè)計或不提供人體工程學(xué)配件的顯微鏡時。

返工檢查（立體顯微鏡）

返工目視檢查，需要具有即時深度感知的3D觀察視野，因此應(yīng)使用配備目鏡的立體顯微鏡。例如，對電子部件或印制電路板（PCB）進行檢查和返工。

檢查和返工過程中無法快速掃描樣本

返工檢查時遇到另外一項導(dǎo)致效率低下的挑戰(zhàn)是無法快速改變顯微鏡的設(shè)置，以讓用戶從大樣品觀察切換為細節(jié)觀察模式。在使用無法提供足夠景深、視野和分辨率的立體顯微鏡時會遇到此挑戰(zhàn)，因此需要繁瑣的調(diào)節(jié)工作。

有關(guān)目視檢查挑戰(zhàn)概述，請參閱表1（進行檢查和返工時遇到的可能導(dǎo)致效率低的挑戰(zhàn)概述）：